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GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在最短時(shí)間內準確地完成測試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測試方案,能夠實(shí)現高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置,能夠在最短時(shí)間內準確地完成測試要求。提供專(zhuān)業(yè)的測試方案,能夠實(shí)現高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。GP200SE擁有穩定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統結合分辨率<2μm的針座系統,確保扎針的穩定性。
硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置,在短時(shí)間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。 GP200擁有穩定且可靠的測試平臺,保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統結合分辨率<2μm的針座系統,確保扎針的穩定性。
GP半自動(dòng)探針臺,GP2000-SE 高低溫探針臺。機臺可輕松實(shí)現DC ~ THZ測量,提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案??蓱糜贗-V/C-V/P-IV測試、1/f噪聲測試、射頻/毫米波測試、功率測試、Load-Pull測試等。